OLED显示模组寿命测试系统 平铺式模组寿命可搭载亮度计直接量测发光膜组的真实数值，在研发和过程数据评判工作中，可起到重要作用。

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统 通道数量：32、64、128，可扩展到512 路；测量模式1：恒流、恒压、恒亮度，需根据客户需求选定

在本文中，我们将描述如何在全自动测试系统中使用影像亮度色度计，在高速度、大批量的生产环境中识别和量化缺陷。本文内容涵盖测试设置，以及可以执行的测试范围 – 从简单的点缺陷检测到复杂的 Mura检测和评估。