简要描述：美国SlerNet光纤光谱仪——紧凑、便携、稳定、操作简单、性价比高。美国SlarNet 是专业微型供应商。其光谱仪外观紧凑小巧，便携设计，操作方便，性价比高，具有优良的电子系统和功能强大的探测器，是的。光谱测量范围在190nm-2300nm之间，波长分辨率小于0.1nm。探测器采取插拔式设计，适用于各种应用与工业用户的多样化需求。

微型光纤光谱仪的

美国SlerNet为您提供光谱系统解决方案

——紧凑、便携、稳定、操作简单、性价比高。
 

*进行时…… 

美国SlarNet 是专业微型光纤光谱仪供应商。其光谱仪外观紧凑小巧，便携设计，操作方便，性价比高，具有优良的电子系统和功能强大的探测器，是的。光谱测量范围在190nm-2300nm之间，波长分辨率小于0.1nm。探测器采取插拔式设计，适用于各种应用与工业用户的多样化需求。

  BLACK-Comet

  业绩内光谱覆盖zui宽的凹面光栅光谱仪
   280－900nm，zui大限度抑制杂散光。

•   * 带偏差校正的凹形光栅使光谱像近乎*
•   *凹面光栅设计使设备无反射镜将漫射光抑制在zui低限度
•   *平面场在整个波长范围具有均匀的分辨率（<1nm）
•   *在400nm以下的UV区域比平面光栅灵敏度高出50%
•   *设备集成度高（尺寸仅为2.7*4.3*6英寸）
•   *具有稳固的抗震结构，无需内部光学

   BLUE-Wave小型光纤分光计
     UV-VIS-NIR&OEM

•   *多种型号选择波长范围覆盖190-1150nm
•   * UVN光栅技术在UV和NIR波段都有很好的衍射效率
•   * 16bit的数据转换，内置存储器，高速的USB2的接口
•   *利用USB hub可以同时连接和驱动8个设备
•   * TTL同步触发可以做等离子检测和LIBS
•   *抗震动的小型坚固的金属封装

  RED-Wave 近红外InGaAs分光计
  0.9-1.7um&0.9-2.3um

•   *TE制冷512的InGaAs阵列，像元大小25*500um
•   *  利用2次校正，可以得到4000:1的信噪比
•   * *的512探测器在25um的狭缝下具有5nm的分辨率
•   *可选1024探测器25um的狭缝具有2.5nm分辨率
•   *16bit数据转换10倍的增益调制，高速USB2接口
•   *抗震动的小巧坚固的金属封装（2.7*4.3*6英寸）

GREEN-Wave 小型的低价位光纤分光计
    UV-VIS-NIR

•   *多种型号选择波长范围覆盖190-1150nm
•   * UVN光栅技术在UV和NIR波段都有很好的衍射效率
•   *12bit的数据转换，内置存储器，USB1接口
•   * 光学分辨率达到0.3nm（FWHM）
•   * 抗震动的小巧坚固的金属封装
•   *低成本应用的理想选择比如教学实验和分光辐射度计
• 系统应用

    LIBS系统

    集成了微型和高峰值功率的小型激光器的LIBS系统（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），可以进行野外实时元素定性分析。此LIBS系统手提箱般的大小，优良的抗震性和良好的温度稳定性，使整套系统非常方便于野外作业。系统可以依靠电池或直流电源供电。通过一台1064nm Nd:YAG 激光器（峰值功率达到MW量级）聚焦后打在目标物体上，以产生等离子体。在等离子体冷却湮灭的过程中，等离子体束中被激活的原子会发射出与元素有关的特性光谱。一般元素的发射光谱都在200-980nm的波长范围内。通过SlarNet提供的Spectral ID元素发光光谱数据库，系统可以直接给出谱线所对应的各种元素。LIBS系统的优点在于，不需要任何样品准备，测试时间非常短（一般在一秒钟之内）。



 

化学测量系统

 ChemWiz-2000 是一款实用型的化学用光谱仪，可以用来进行各种物质的成份分析、浓度分析以及物质鉴别。很多物质都有其特定的吸收峰或吸收带，我们只要测出该物质的吸收曲线，既可以对该物质进行一系列分析，如所含成分、含量等。ChemWiz-2000还可以实现在很多生产过程中实时监控。

 

辐射度测量

系统主要用于测量发光体的各波长的辐射度分布。辐射度光谱仪可以用来测量LED的光强，xy chromaticity （CIE 1931），纯度，和主要波长等。光谱仪需要配合余弦接受器或积分球一起使用。SlarNet在辐射度光谱仪出厂之前,全部经过NIST（美国国家标准与技术研究院）标准光源的校正过，以保证测量结果的准确性。此外SlarNet还提供辐射度校正光源供客户自己进行校正。



 

薄膜测量

在薄膜测量方面，光谱仪应用非常广泛。薄膜厚度测量是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。

SlarNet可提供低成本的薄膜测量系统。可检测多层结构，单层的，粗糙的，已经薄厚不均的样品。测量膜厚范围50A-20um，精度为0.2% 或者10A
 

荧光光谱测量

针对荧光光谱测量，美国SlarNet公司提供350-1000nm，200-850nm和250-900nm三种光谱仪配置。样品被特定光谱范围的激发光照射后，产生波长更长的荧光。用户可以通过特殊的样品池或者光纤探头对荧光进行探测。光谱由一根1000um的光纤传输到光谱仪。如果需要，我们还能提供各种多通道光谱仪配置。

比较常用的激发光源是470nm蓝光LED灯（SL1-BLUE），这种光源线宽为30nm，只需要20mA驱动电流，而且价格非常便宜。另外脉冲的氙灯（SL4-XENON）配合滤波器使用，可以提供更高强度的激发光。SlarNet提供的氘灯（SL3-DEUT）则可以提供高功率连续激发光源。系统提供IEEE1248和USB-2.0两种接口。光谱仪驱动电流为5V，系统附带有交流转直流变压器。

颜色测量

 SlarNet微型光谱仪可以对各种样品进行颜色测量和对比，通过光纤反射探头可以对固体样品的颜色进行测量；通过浸入式光纤探头和透射试管可以对液体的颜色进行测量。系统附带功能强大的SpectraWiz，而且这套软件是*免费的！对于颜色测量，SpectraWiz系统提供标准的CIE 1976 L* a* b* （CIELAB）颜色空间数据。L*代表颜色的亮度。正a*值代表红色，负a*值代表绿色。与此相似，正b*值代表黄色，负b*值代表蓝色。L*a*b*值可由样品（物体）的CIE三刺激值X，Y，Z和标准光源的三刺激值Xn, Yn, Zn推导得到。  
对于比色测量，需要先对一个标准的样品进行测试并保存其光谱。然后系统可以根据所测样品和标准样品的光谱差别计算出△E，△E用以表征两种样品颜色的差别。对于需要多束光得color monitors过程,SlarNet还可以提供相应得多通道光谱仪。