简要描述：一套用于皮秒时间分辨的超快荧光测试系统解决方案，为您提供ps-ns-us 量级的超快荧光寿命或超快等离子体衍化过程的快速测量。

系统主要功能指标：

• 宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm;

• 高系统时间分辨率： <=5ps

• 寿命衰减测量时间范围：<=50ps—100us 

• 高系统光谱分辨率： <0.1nm

• 宽单次成谱范围：  >=200nm

• 静态（稳态）光谱采集，

• 瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线

• 系统集成整体控制及数据处理软件

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超快时间分辨光谱系统 是由光谱仪、超快探测器、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光，分光光谱耦合到超快探测器,入射光由透镜聚焦在阴极上，激发出的光电子通过阳极加速，入射到偏转场中的电极间，此时电压加在偏转电极上，光电子被电场偏转，激射荧光屏，以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大，并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比，因此，通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来，也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等，图像工作站用于采集数据处理分析

主要应用方向

光谱仪建议选型参数列表