有别于基于传统 Fizeau 干涉仪的方法,采用位相检测方法直接构建的动态干涉仪既不需要移动待测元件多次曝光,也不需要采用偏振等复杂的光学手段,针对待测元件进行一次测量即可获得其反射面型或透过波差;Kaleo-Multiwave 多色动态干涉仪可用于光学元件面型检测、透过波差测试、大型望远镜系统测试及实时调整等。大动态范围像差测试能力使其可测平面 / 球面波而无需中继镜,无色差检测能力允许使用多个波长甚至白光进行测试。Kaleo-Multiwave 集成了可切换波长的准直光源,可以对大口径镜片进行直接或对比测量。
• 紫外、可见、近红外、短波红外、中远红外等多个波长可订制
• 纳米级位相分辨率
• 超高动态范围,>600 条纹数