简要描述：Phasics Kaleo IR 红外光学计量机台让红外光学元件测试变得非常简便。可通过单次测量迅速获得红外的MTF，而无需扫描或繁冗的准直工作；在测量的同时可获取所有的波前畸变。同时Kaleo IR还是一台在NIR，SWIR，MWIR以及LWIR波段的高性价比红外干涉仪，用于测试光学元件面形。

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