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X射线线阵列探测系统

简要描述:Sens-Tech 公司目前主要提供四种X 射线数据采集产品:XDAS-V3 系列、XDAS-HE 系列、LINX 系列X射线线阵列探测系统

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-11-27
  • 访  问  量:5717
详细介绍

X射线线阵列探测系统

英国Sens-Tech 公司是X 射线探测器和信号数据采集系统的专业开发商、供应商,其在X 射线线扫描成像和CT 领域拥有丰富且成功的经验和技术。Sens-Tech 的系统集成信号探测、模拟信号放大、数字信号输出于一体,有多种控制功能可选择,可方便的与计算机连接,实现图像或信号的数字化处理。

X射线线阵列探测系统

探测器有硅光电二管阵列和闪烁晶体组成。二管阵列可以是一维或者两维扫描方式, 由具体应用决定。选择探测器需要充分考虑光谱响应、电容、暗电流、灵敏度、探测面积以及串扰的影响,并选用与闪烁晶体的发射波段相匹配的探测器。并尽可能降低暗噪声,减小偏移量,获得的响应。同时,让各探测单元的探测面积和串扰达到*化。

闪烁晶体根据探测能量的不同,厚度和尺寸可以根据用户的要求进行定制。

Sens-Tech 公司目前主要提供四种X 射线数据采集产品:XDAS-V3 系列、XDAS-HE 系列、LINX 系列

Sens-Tech 标准产品的参数

材料

厚度

能量范围

每单位能量的信号输出

信号衰减时间

备注

Silicon

300μm

5-30keV

zui高,直接转化

1us (非偏置)

光电二管直接探测,不使用闪烁晶体

Gadox(Tb)

0.31mm

20-100keV

近似CsI

2-3ms

荧光条,无法进行像素分割来防止串扰

Gadox A

0.2mm

低于Gadox(Tb)20%

1ms

 

Gadox B

0.4mm

高于Gadox(Tb)10%

1ms

 

CsI(Tl)

0.4-4mm

40-160keV

光转换效率zui高

2个不同的衰减时间, 微妙级

像素被分割成阵列,以减少串扰

CdWO4

2.5-30mm

150keV-9MeV

约为CsI25%

20us

像素被分割成阵列,以减少串扰,价格昂贵

GOS

2.9mm

100-200keV

20% than CdWO4

3us

抗强辐射

 


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