激光光束波前分析仪
美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2DTM系列波前分析仪(CLAS-2D™ , CLAS-XP™, CLAS-HP™, CLAS- NearIR-320™, CLAS-NearIR-640™)能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数,例如波前倾斜,峰谷误差,均方根波前误差,像散,球差,聚焦误差/准直。
LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪,光束质量分析仪,自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用*的算法能够测量三个波段的波前参数:300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。
另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力,能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求,为客户推荐zui合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。
激光光束波前分析仪产品特点:
CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等*的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好,可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。
应用范围:
Ø 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测
Ø 激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测
Ø 红外、近红外探测
Ø 平行光管/望远镜系统的检测与装调
Ø 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域
Ø 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)
Ø 虹膜定位像差引导
Ø 大口径高精度光学元器件检测
Ø 激光通信领域
Ø 航空航天领域