膜厚测量仪该如何选购？

 　　膜厚测量仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。它基于薄膜干涉，这是一种物理现象：薄膜上下表面反射的光波会相互干扰，产生光的干涉现象，进而增强或减弱反射光。当膜的厚度是其反射光的1/4波长的奇数倍时，来自两个表面的反射光会相互抵消，因此光不会被反射，全部透射过去了。当厚度是光的1/2波长的倍数时，两个反射波会互相增强，从而增加反射并降低透射。因此，当由一组波长组成的白光入射到薄膜上时，某些波长（颜色）的光被增强，而其他波长则被减弱。