棱镜耦合测试仪的核心优势及产品特点

       棱镜耦合测试仪采用棱镜耦合方法测试样品折射率，可测试波长633nm、935nm、1549nm处的折射率值，通过软件做曲线耦合科求出任何波段的模拟值。

       测试仪提高了用户友好的控制程序，和新测量的功能，允许测量从常见到特殊的薄膜而不需依靠内部系数或菜单式校准曲线，不必预先知晓厚度及折射率，±.0005常规折射率分辨率-尤其在大批量生产时比其他技术更具优势（可获得更高折射率），通用化-没有固定的薄膜/基底合并菜单，可测量双膜结构中的单膜厚度及折射率，体材料或基底材料的高精度折射率测量，快速测量薄膜或漫反射光波导参数。

       测试仪将APD和PIN-TIA的耦合测试整合于一体，方便使用，可高精度、快速检测Vbr、响应度和接收信号强度，提供4个波长的调制光源，响应电流测试条件可以选择加电压Vbr-X、定点输出X，系统自带大尺寸液晶显示屏。棱镜耦合测试仪可精确显示雪崩电压，响应电流等性能参数并提供示波器输出接口，方便耦合观测，采用无极旋钮，方便操作并带有掉电记忆功能。

       电压电源和加电开关具备缓冲电保护电路、防过充、反冲、ESD和浪涌等保护电路，高压脚接地，测试雪崩电压超过75V和TIA电流超过设置范围会停止测试保护器件，支持上位机保存数据 并查询，数据刷新速度达到5ms，查询间隔10~15ms。