技术文章
当前位置:
主页 >
技术文章 > CMOS平板探测器在X-Ray全自动盘料点数机应用
CMOS平板探测器在X-Ray全自动盘料点数机应用
更新更新时间:2017-11-07 点击次数:2737
一、基于X-Ray的盘料点数机和传统点料机区别
传统的点料方法:
1. 原理:
传统的盘装电子物料点数方法是将料盘上封装的物料一端拉出,连接到带有收料盘的装置上,经过不同方式的传感器,通过对封装物料相邻间差异的识别实现物料个体封装的识别和计数,从而实现物料点数工作。
2. 局限性:
(1)此种方式点数周期长,若提高收料装置的牵引速度,可以一定程度上提率,但对物料包装的要求较高,以确保料带能够承受较大的拉力,物料的包装成本需要提高,所以由于牵引速度的限制,制约了点料速度的提高;
(2)若封装空间里没有物料,此种方法会出现误判,从而影响点数度。
X-Ray点料方法:
利用X光大角度透视的原理,得到盘料的X-Ray图像,通过软件分析,得到计数结果,相比传统的点料方式,大大的提高了工作效率,节约人工成本。
原理示意图
物料料盘
X射线图像和软件分析结果
二、我司可以提供的产品
针对X-Ray点料机应用,我们可以提供高灵敏度和高动态范围的CMOS平板探测器,满足您多方面的需求。
CMOS平板探测器,我们提供多种感应面积供选择,有12cmx7cm; 15cmx12cm; 23cmx7cm; 23cmx15cm; 29cmx23cm.zui小像元尺寸75um。