波前分析仪的技术革命

 波前分析仪是自适应光学系统zui重要的组成部件之一，决定了自适应光学系统zui终的调制结果。同时波前探测器在激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统的波前像差检测，虹膜定位像差引导，大口径高精度光学元器件检测，平行光管/望远镜系统的检测与装调，红外、近红外探测，激光光束性能、波前像差、M^2、强度的检测，高精密光学元器件表面质量的检测等领域发挥着越来越重要的作用。美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2DTM系列波前分析仪（CLAS-2D™ , CLAS-XP™, CLAS-HP™, CLAS- NearIR-320™, CLAS-NearIR-640™）能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数，例如波前倾斜，峰谷误差，均方根波前误差，像散，球差，聚焦误差/准直。

四波剪切干涉技术原理：

　　剪切干涉技术基本原理是将待检测的激光波前分成两束，其中的一束相对于另一束横向产生一些错位，两束错位的光波各自保持完整的待测波前信息，相互叠合后，产生干涉现象，CCD/CMOS相机会接收干涉图样，进行相应的计算分析，从而利用傅立叶变换的相关计算，分析出待测波前的相位分布，以及强度分布等。基于干涉条纹的疏密度敏感于波前的斜率，因此波前传感器在探测波前的偏离范围较传统的哈特曼传感器具有更大的*性。

      LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪，光束质量分析仪，自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用*的算法能够测量三个波段的波前参数：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。

波前传感器的典型应用

　　光在传输的过程中会经过不同的介质，不同的介质由于其构成物质的分布不均匀，从而导致光的波前产生各种各样的变化，自适应系统便应运而生。作为自适应系统中重要的一环，波前传感器的检测精度，动态范围等等因素，都制约着自适应系统zui终的调制结果。由于剪切干涉波前分析仪具有分辨率高，探测精度高，探测速度快，操作简便，可直接的三维显示波前畸变的模式等优点，目前已经得到了广泛的使用。

波前分析仪特点：

      CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等*的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。

应用范围：

Ø 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测

Ø 激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测

Ø  红外、近红外探测

Ø 平行光管/望远镜系统的检测与装调

Ø 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域

Ø  球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)

Ø  虹膜定位像差引导

Ø 大口径高精度光学元器件检测

Ø  激光通信领域

Ø  航空航天领域

      另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐zui合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。

      先锋科技创建于1995年，是国内的光电产品代理商，代理美国LUMETRICS生产的波前分析仪，我们每年定期安排技术服务工程师去国外参加技术培训，并购买相应的零配件，力争做到绝大部分的主流产品可以做到本地化维修，免除由于返回国外造成的时间及物质上的损失。我们将以全体用户的利益为重，尽我们zui大的努力，为各个领域内的用户提供的服务。衷心希望得到您们一如既往的支持！