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用于光遗传学的多波长五维可调LED光源遗传学（Optogenetics），即结合遗传工程与光来操作个别神经细胞的活性，发现脑部如何产生γ波（gammaoscillations），并为它们在调控脑部功能中的角色提供新证据，这将有助于发展一系列脑相关失调的新疗法。光遗传学融合了光学及遗传学的技术，控制特定细胞在空间与时间上的活动。其时间上程度可达到厘秒，而空间上则能达到单一细胞大小。2010年光遗传学被NatureMethods选为年度方法，同年被Science认为是近十年来的突破之一。光遗传学是由斯坦福大学的研究人...
2018 4-13
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采用高灵敏度亮度计用于仪表显示检测的解决方案汽车内仪表显示分为功能性照明和指示性照明，用于增强黑暗中的照明亮度及指示汽车仪表状态。目前汽车内背照灯及指标灯越来越多的采用LED，不仅对其亮度有要求，对其颜色也有较高要求。高灵敏度快速光谱式亮度计PR-740特点：优势：采用制冷型CCD探测器有效抑制暗噪声及杂散光高灵敏度可快速测试弱光信号一台仪器zui多可选8个光阑方便准确对准仪表盘目标小点多光谱带宽选项对于窄带光谱具有更好的精度光谱功率分布测试功能避免同色异谱带来的颜色误差动态范围宽可以测试显示面板较大的对比度生产厂家：...
2018 4-13
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10分钟让老化的LED显示屏光亮如新--RadiantZemaxLED显示屏现场再校准解决方案由于LED显示屏的RGB灯珠的亮度会随着时间衰减，且衰减速度不同，造成LED显示屏亮度、色度不一致，出现老化和花屏现象。如何对这些老化的LED显示屏进行快速、低成本而有效的“现场再校正”，延长LED屏的“悦眼寿命”成为越来越多LED显示屏企业的新挑战，也是新机遇！上图所示的LED显示屏，经过2年的使用，由于RGB灯珠衰减的不一致导致花屏，脏屏现象严重。您是否还在选择把箱体拆下运回工厂重新校正后再进行安装？您是否还在选择...
2018 4-13
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解决直读光谱仪常见问题直读光谱仪采用原子发射光谱学的分析原理，样品经过电弧或火花放电激发成原子蒸汽，蒸汽中原子或离子被激发后产生发射光谱，发射光谱经光导纤维进入光谱仪分光室色散成各光谱波段，根据每个元素发射波长范围。通过光电管测量每个元素的*谱线，每种元素发射光谱谱线强度正比于样品中该元素含量，通过内部预制校正曲线可以测定含量，直接以百分比浓度显示。直读光谱仪的常见故障及解决方法：1、直读光谱仪排气不畅故障，氩气排气管路堵塞，火花室下部的弯头内有异物，氩气过滤器入口端有异物。处理办法：更换排气管，...
2018 4-13
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Vision系列LED显示屏光色校正解决方案Vision系列LED显示屏校正系统是一个LED显示屏制造商和用户显著改善LED屏色彩和亮度均匀性的解决方案。该系统适用于多种场合校正要求：LED显示屏制造业领域的LED模块和屏幕校正；LED显示屏使用领域的LED室内和室外屏幕校正；LED显示屏的重新校准和性能的改善。VisionCAL—LED显示屏的色度和亮度逐点校正系统VisionCAL系统使用一架PM系列影像色度计测量LED模块或屏幕中每一颗LED的色度和亮度。在此测量基础上，VisionCAL应用软件计算优化每个LE...
2018 4-13
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气体传感器的类型气体传感器的类型，从检测气体种类上，常分为可燃气体传感器（常采用催化燃烧式、红外、热导、半导体式）、有毒气体传感器（一般采用电化学、金属半导体、光离子化、火焰离子化式）、有害气体传感器（常采用红外、紫外等）、氧气（常采用顺磁式、氧化锆式）等其它类传感器；从仪表使用方法上，分为便携式和固定式；从获得气体样品的方式上，分为扩散式（即传感器直接安装在被测对象环境中，实测气体通过自然扩散与传感器检测元件直接接触）、吸入式（是指通过使用吸气泵等手段，将待测气体引入传感器检测元件中进行检...
2018 4-13
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MEMS器件近红外检测技术在半导体制造过程中，前期的全自动晶圆缺陷检测技术非常重要。因为在后端的生产流程中，通常会有多片晶圆粘合到一起，或者把晶圆粘合到不透明的材料上。因为半导体材料对可见光都是不透明的，所以很难用可见图像技术对粘合效果做表征或者检测粘合表面的污染。比如MEMS的分选就是典型的应用。MEMS是把微型机械部件、微型传感器、微电路集成到一个芯片上；为确保MEMS的运作，对其进行缺陷检测是至关重要的，但很多机械性能无法通过电气或功能测试来确定。因为这些缺陷往往位于基板上或器件与封盖晶圆之间连...
2018 4-13
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冷CCD相机在微光显微镜（EMMI）的应用半导体器件和电路制造技术飞速发展，器件特征尺寸不断下降，而集成度不断上升。这两方面的变化都给失效缺陷定位和失效机理的分析带来巨大的挑战。对于半导体失效分析（FA）而言，微光显微镜（EmissionMicroscope,EMMI）是一种相当有用且效率高的分析工具。微光显微镜其高灵敏度的侦测能力，可侦测到半导体组件中电子－电洞对再结合时所发射出来的光线，能侦测到的波长约在350nm~1100nm左右。它可以广泛的应用于侦测IC中各种组件缺陷所产生的漏电流，如：Gateoxided...
2018 4-13
